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• 產品介紹 •

全反射X射線熒光光譜儀(yí)
作(zuò)為一種常見的元素含量分析手段,X 射線熒光(XRF)光譜法在科研、工業、生命科學等領域中都有著廣(guǎng)泛的(de)應用。而全反射X射線熒光光譜儀(yí)的(de)出現,更是大(dà)地拓展了XRF 的應用(yòng)範圍,突破傳(chuán)統XRF的檢出限,實現了液體、固體、薄膜中超微量元素(sù)的檢測,檢出限低ppb級別。TXRF操作簡單,製樣便捷,耗材少,需少量樣品即可實現樣品中元素的定量分析,在樣品測試量大(dà)以及樣品種類多變的情況下,這一優勢顯著。因此,TXRF是原子吸收光譜法(AAS),電(diàn)感耦合等離(lí)子體發射光(guāng)譜(pǔ)法(ICP-OES)或質譜(pǔ)法(ICP-MS)等測試手段的良好補充,是生產、研究、檢測中(zhōng)元(yuán)素含量分析的(de)理想選擇。
應用(yòng)領域廣(guǎng)泛
環境土(tǔ)壤,水質,大氣顆粒(lì)物,植物葉片等;生命科學中血液,尿液,醫藥,法檢等。
TXRF光譜儀技術(shù)優勢
· 檢出限低ppb級(jí)別(bié)
· 樣品製備(bèi)簡單,不用消解,免壓片
· 隨機配置(zhì)製樣設備,不用其(qí)他耗材,測試成(chéng)本低(dī)
· 檢測效率高,單(dān)次進樣(yàng)量達90個,能夠24小時(shí)連續運行
· 維護簡單,運營成(chéng)本低
· 通(tōng)用性,能夠實現液體、固體、薄膜中超微量元素(sù)的定性(xìng)定量檢測
· 通過軟件(jiàn)操作(zuò)可實現設備自動校準,測試結果準確






