
薄膜應力及基底翹曲(qǔ)測試設備
FSM128係列設備,裝備(bèi)有光學掃描係統。
薄膜應力及基底翹曲測試設備
FSM 500TC 200mm 高溫應力測試係統可以幫助研發和工藝工程師評估薄膜的熱(rè)力學性.....
晶圓厚度測量(liàng)係統(tǒng)
FSM413回波探頭傳感器使用具有紅(hóng)外(IR)幹涉測量技術
Line Card
全自動紫外線(xiàn)芯片應力測量儀
全自動紫外線芯片(piàn)應力測量(liàng)儀一台全自動紫外線——可見光RAMan儀器,主要(yào)用與測(cè)量芯片應力。
紅外幹(gàn)涉測量設備
紅外(wài)幹涉測量技術, 非接觸式測量
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傳(chuán)真:86-021-57656381
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