
更新時間:2023-02-10
產(chǎn)品品牌:Bruker
產品型號:NP Flex
為(wéi)大尺寸工件加工提供非(fēi)接觸準確測量布魯克的NPFlex三(sān)維表麵測量係統為(wéi)大樣品的(de)表麵表征測量提供了靈活的非接觸式的方案,可廣泛用於醫療植入,航空航天、汽車或加工上的大(dà)型、異型工件的測(cè)量。基於白光幹涉原理,NPFlex為用戶(hù)提供超過接觸式方(fāng)法(fǎ)所能達到的更大數據量、更高分辨率和更好的重複性,使它成為互補型的測量方(fāng)案。
開放式的龍門設計克服了以往某些零件由於角度或取向造成的測量困難,現在NPFlex可實現超過300度的測量空間。NPFlex的靈活性(xìng)、數據準確(què)性和測試效率為加工行業提(tí)供了一種簡單的方法,來實現其更苛刻的(de)加工要(yào)求、加工工藝和更好的終端產品。
布魯克(kè)NPFLEX三維表麵測量係統為大樣品的表麵表征測量提供了靈活的非接觸式的方案,超過(guò)300度的測量空間,克服了以往由於零件某些角度(dù)或取向問題(tí)造(zào)成的測量困難。NPFLEX是針對大型、異型工件進行非接觸測量,獲得微米級、毫米(mǐ)級樣(yàng)品形貌特(tè)征的(de)三(sān)維表麵測量係統。
其靈活(huó)性表現在(zài)可(kě)用於測量表征(zhēng)更大的麵型和更難測的角度
·空間設計使得可測零件(樣品)更大、形狀更多
·開放式龍門、定(dìng)製的夾具和可選的搖擺測量頭可輕鬆測量想測部位
三維表麵信息(xī)測量
·每次測量均可獲取(qǔ)多種分析結果(guǒ)
·更容易獲得更多的(de)測量數據來幫助分析(xī)
垂直方向可達納米級分辨率,提供更多的(de)細節
·幹涉技術實現每一個測量象素點上亞納(nà)米級垂直分辨率
快速獲取測量數(shù)據,測試(shì)過程迅速
·少的樣品準備時間和(hé)測量準備時間
·比接觸法測量(一條線)更大(dà)的視場(一個麵)獲得表麵更多的(de)數(shù)據

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