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微區X射線熒光光譜儀M4 TORNADO

更新時間:2023-10-25

產(chǎn)品品牌:Bruker

產品型(xíng)號:M4 TORNADO

產(chǎn)品(pǐn)描述:微區X射線熒光光譜分(fèn)析技術是對不均勻樣品、不規則樣(yàng)品、甚至小(xiǎo)件樣品和(hé)包裹物進行高靈敏度的、非(fēi)破壞性的元素分析方法。

M4 TORNADO 微區X射線熒光光譜儀

      Bruker M4 Tornado 微區X射線熒光光譜儀可用(yòng)於對大塊、不均勻(yún)、不規則,甚至(zhì)小(xiǎo)件的樣品和包裹物進行高靈敏度、非破壞性的(de)元素分(fèn)析 (Na11-U92) ,是研究樣品成分分析(xī)、成分(fèn)分布規律的新(xīn)利器,可以給學者從宏觀(guān)、微觀(guān)、微宏觀結合(hé)等多個角度提供新(xīn)的研究思路。

      采用多導毛細管聚焦鏡將激發光(guāng)聚焦到非常小的區域(yù) (<20um) ,以獲(huò)得良好的(de)空間分辨率,進行元素(sù)成(chéng)像分析。不同類型的(de)樣品都可以通過簡(jiǎn)單的樣品製備(bèi)甚至(zhì)不製備直接進行分析。設(shè)備輸出高精度的元素分布圖分辨率可高達4000萬像素,7168*5582 pixels。

應用案例

1、植物環境應用

      微區X射線熒光光譜(pǔ)儀設備可以快(kuài)速(sù)的對不同種類的動、植物樣本進行(háng)無損掃(sǎo)描,適時觀測(cè)植物樣品的根、莖、葉(yè)、花、種子中元素遷移過程,不同階段元素含量變化以及元素成像(xiàng)分析(xī);可同時開展土壤重金屬汙染監控,植物(wù)營養學及(jí)抗逆性研究,昆蟲形態學研究,生物組織相容性研究(jiū)等。
      利用微區XRF分析水稻葉(yè)片,通過野生(shēng)型和多(duō)個突變體的P元素運移富集規律,確定了幾種SR蛋白作為磷營養元素的關鍵調節因(yīn)子,並顯示了三個(gè)SR蛋白編碼基因調控水稻磷的吸收和莖葉間的遷移。

 

2、科技考古

      考古研究中,X射線熒光光譜主要是測定古物中的(de)成分,進而推斷和判斷當時的人(rén)類社會(huì)文化。微區X射線熒光光譜分析不僅提供定量數據還可以直觀給出成分分(fèn)布數據(jù)。主(zhǔ)要應用於陶瓷(cí)、青銅器、金銀器、古建築、字畫顏(yán)料、古建築(zhù)等文物(wù)的(de)成(chéng)分分析。
      利用微區XRF分析新(xīn)石器時代早期的(de)白陶,從白陶樣品斷麵 Ca 元素分布看出白陶內壁有明顯(xiǎn)的結層,鈣元素(sù)的富集區域正好對應於樣品(pǐn)內壁的結層位置,說明這層殘留物應該是富含鈣質的水垢類物質。這揭示了白陶在新石器已經作為實用器。

3、地球科學領域

      微區X射線熒光光譜儀是地球化學方向的重要分析儀器(qì),主要用(yòng)於岩石(shí)、隕石、化石等樣品進行無損高速掃描與(yǔ)元素分布成像,以及礦物識(shí)別、定量及分類。
      利用微區(qū)XRF分析地質薄片或礦石(shí)原石,可以獲取(qǔ)薄片(piàn)表麵的元素(sù)分布規律,同時可以利用專(zhuān)業軟件,獲取礦物分布的信息,從而獲得樣品成分分布的宏觀規律。

4、材(cái)料科學

      應用於薄膜鍍層厚度及均勻性研究;納米薄膜中金屬顆粒摻雜的成分以及(jí)分布成像;還可以對金屬表麵離(lí)子腐蝕(shí)、塗層(céng)工藝(yì)元素分布進行識別;合金(jīn)樣品成分梯度(dù)的表(biǎo)征;探測器芯片等(děng)電子部件的質(zhì)量控製與故障檢測,量化觸點與焊接點的元素識(shí)別(bié)與失效性分析。
      利用微區XRF分析混凝土,可以清晰的看出Cl元素的(de)分布及侵入深度。可以根據元素的分布(bù)情況獲取有害元(yuán)素的種(zhǒng)類及侵蝕情況,對材料的結構性進行評估,以及(jí)結構強度修複提(tí)供數據支撐。

5、生(shēng)物工程

      應用於生物組織切(qiē)片;植入物與生物組織相(xiàng)互影響元素滲透分布成像;還可以仿生學材料(liào)的有害物質進行分析等。
      利用微區XRF分(fèn)析人工韌帶,將人(rén)工韌帶植物(wù)生物體內一段時間後取出測試,根據Ca元素和Cl元素的分布圖,可(kě)以(yǐ)看出(chū)人工韌帶中的礦物沉積 以及是否會有一些雜質元素和副產物的(de)產生(shēng)。

6、刑偵公安

      利用微區XRF分析對衣(yī)物(wù)上彈孔進(jìn)行射擊殘留物分析,殘(cán)留物大(dà)部分顆粒很小,無法直接檢測。理想方法是將這(zhè)些顆粒(lì)物的分布進行高分辨率成像。根據Cu、Pb、Ba元素的成像,可以獲取彈藥種類、距離和射擊角度等相關數據。

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