
更新時間(jiān):2020-08-12
產品品牌:Bruker
產品型號:S4 TSTAR
S4 TStar — TXRF全反射X射線熒光光譜儀
數十年來,X 射線熒光(XRF)光譜法在多(duō)個行業中被廣泛用於(yú)對固體(tǐ)和石油化工樣品進行(háng)元素分析,檢測限值低於PPb 量(liàng)級。TXRF 擴展了XRF 的應用範圍,可以分析液體樣品、懸浮液(yè)和膜片中的超微量元素。
優異的樣品(pǐn)通用性
S4 TStar 是一種通用性很強的(de)工具(jù),可以分析不同反射載體上的多種(zhǒng)類型的樣(yàng)品。
ICP 隻能分析完全溶(róng)解的液體樣品。

圖一:30 毫米石英片:對液體、固體和(hé)懸浮液進行元素分析
圖二:2 英寸晶片:汙(wū)染分析、深度剖析和材料科學研究
圖三:顯微鏡載玻片:臨床和生物學樣品,直接分析細胞培養物、塗片和(hé)切片
圖四(sì):矩形載體:尺寸小於54 毫米,用(yòng)於膜片(piàn)、濾片、納米顆粒層
定製的反射介質(zhì)
行業應用:
· 藥品
檢測活性藥物成分中的催化(huà)元素(sù):液體或丸粒中的鉛含量小於(yú)0.1 / 0.5ppm
· 食品
糧農組織和世衛(wèi)組(zǔ)織的食品標準(zhǔn):大(dà)米中的砷含量小於10 / 40ppb。
· 環境監測
環境監測:地(dì)表(biǎo)水,廢(fèi)水、汙泥和核(hé)廢液中的汙染物含量小於1 / 10ppb。
電話:86-021-37018108
傳真:86-021-57656381
郵箱:info@qianmengwl.cn
地址:上海市鬆(sōng)江區莘磚公路518號鬆江高科(kē)技園區28幢301室