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元素分析
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直讀光譜儀手持/便攜式X射線（xiàn）熒光光譜儀科研級（jí）手持/便攜式X射線熒光光譜儀波長（zhǎng）色散型X射線熒光光譜儀 WDXRF 在線式X射線（xiàn）熒光光譜（pǔ）分析儀微區X射線熒光光譜儀 X射（shè）線衍射儀 XRD 全反射（shè）X射線（xiàn）熒光光譜儀三維 X 射線顯微鏡（jìng）岩心掃描XRF分析儀鑽井信息（xī）采集管理
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探針式輪廓儀/台階儀光學輪廓儀納（nà）米力學測試係統摩擦（cā）磨（mó）損儀原子力顯微鏡（jìng）
太陽能/半導體
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通用儀器耗材及檢（jiǎn）測服務
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原子力顯微鏡探（tàn）針檢測服務電荷（hé）靈敏前置放大器（qì） CUBE PV/I-V測試濾芯/濾袋

反射膜厚儀（yí）

更新（xīn）時間：2020-08-12

產品品牌：Semiconsoft

產（chǎn）品型號：MProbe RT

產品描述：大部（bù）分（fèn）透光或弱吸收的薄（báo）膜均可以快速且穩定的被測量。

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產品概述（shù）

大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩（wěn）定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(矽，單晶矽，多晶矽)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬塗層(碳化（huà）矽，類金剛石炭)，聚合物（wù）塗層(聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)

該機大部分透光（guāng）或弱吸（xī）收的薄膜均（jun1）可以快速且穩定的被測量。比如：氧化（huà）物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(矽，單晶矽，多晶矽)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬塗層(碳化矽，類金剛石炭)，聚合（hé）物塗層(聚甲基丙烯酸甲（jiǎ）酯，聚酰胺)

測量範圍: 1 nm -20um(UVVis)，1nm-150um(UVVisNIR)

波長範圍: 200 nm -1000 nm(UVVis)

200nm-1700nm(UVVisNIR)

適用（yòng）於實時在線測量，多層（céng）測量，非均勻塗層, 軟（ruǎn）件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支（zhī）持多（duō）重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等；

藍寶（bǎo）石基（jī）底上1025nm厚度的氧化物薄膜的反射率和透射率，波長範圍(200-1700nm)：