更新時間：2020-08-12
產品品牌：Semiconsoft
產品型（xíng）號：MProbe NIR
采用近（jìn）紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用於測量（liàng）一些可見光和紫外光無法使用的應用（yòng）領域，比如在可見光範圍內有吸收的太陽（yáng）能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測量。
測量範圍: 100 nm -200um
波長範圍: 900 nm -2500 nm
適用於實時在線測量（liàng），多（duō）層測量（liàng），非均勻塗層, 軟件包含（hán）大量材料庫(超過500材（cái）料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
測量指標：薄膜厚度，光學常（cháng）數
界麵友好: 一鍵式（shì）測量和分析。
實用的工具：曲線擬合和靈（líng）敏（mǐn）度分析，背景和變形校正，連接層和材料（liào），多樣品測量，動態測量和產線批量處理。
電話：86-021-37018108
傳真：86-021-57656381
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