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產品中（zhōng）心（xīn）

元素分析
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直讀光譜（pǔ）儀（yí）手持/便攜式X射線（xiàn）熒光光譜儀科研級手（shǒu）持（chí）/便攜（xié）式X射（shè）線熒光（guāng）光譜（pǔ）儀波長色散型X射線熒光（guāng）光譜儀 WDXRF 在線式X射線熒光光譜分析儀微區X射線熒光光譜儀 X射線衍射儀 XRD 全反射X射線熒光光譜（pǔ）儀（yí）三維 X 射線顯微鏡岩心掃描XRF分析儀鑽井信息采（cǎi）集管理
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原子力顯微鏡探針檢測服務電荷靈敏前置（zhì）放大器 CUBE PV/I-V測試濾芯/濾袋

微區X射線熒光成像光譜儀PLUS

更新（xīn）時間：2022-07-15

產品品牌：Bruker

產品型號：M4 TORNADO PLUS

產品描（miáo）述：M4 TORNADO PLUS 微區X射線熒光成像光譜儀是能（néng）夠檢測出C（6）-Am（95）間元素的微區X射（shè）線熒光（guāng）成像光譜儀。

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M4 TORNADOPLUS - 微區X射線熒光成像的新紀元

M4 TORNADO微區X射線熒光成像光譜儀PLUS能夠檢測出C（6）-Am（95）間元（yuán）素的微區X射線熒（yíng）光成像光譜儀。

作為微區X射線熒光成像光譜儀M4TORNADO係列的新產品，M4 TORNADO^PLUS又增添了功（gōng）能，例如孔徑管理係統（tǒng），高通量脈衝處理器以及快速靈活更換的樣品台。

更輕、更快、更深

M4 TORNADO^PLUS采用輕元素窗口的大麵積矽漂移探測器（SDD）實現對輕元素碳的檢測，高通（tōng）量脈衝采樣，BRUKER孔徑管理係統（AMS）可以獲取大（dà）景深（shēn），對表麵不平整樣品分（fèn）析具（jù）有優勢。

輕元素檢測

M4 TORNADO^PLUS能夠檢測分析輕質元素碳的微區X射線熒光成像光譜儀，具備兩個具有輕（qīng）元素窗口的大（dà）麵積矽漂移探測器和一個優化的Rh靶X射線光管。

與普（pǔ）通微區X射（shè）線（xiàn）熒光成像光譜儀不同，M4 TORNADO^PLUS在不影（yǐng）響較（jiào）高能量範圍內元素靈敏度的前提下，還可以檢測原（yuán）子數小於（yú）11的元素（Z＜11），例如氟（F）、氧（O）、氮（dàn）（N）和碳（C）。

隨著（zhe）功能性的增強，M4 TORNADO^PLUS應用也正在（zài）開（kāi）發和拓展中，例如地質學（xué）、礦物（wù）學、生物學、聚合物研究或半導體（tǐ）行業等方（fāng）向。

應用實例-螢石和方解石的區分

螢石（CaF₂）和方解石（CaCO₃）都是以鈣為主要成分的礦物（wù）。它（tā）們的區別在於分別存在輕質元素氟（F），氧（O），碳（C）；由於普通微區X射線熒光成像光譜儀檢測不到Z＜11(Na）的元素，無法區分這兩（liǎng）種礦物，所（suǒ）以螢石和方解（jiě）石的光（guāng）譜圖上都隻會顯示Ca元素（sù）譜線。

利用輕元素探測器，M4 TORNADO^PLUS可以檢測氟（F）、氧(O)和碳(C)，從而鑒別這兩種礦物。

圖：鑒別螢石與（yǔ）方解石

左：方解石（紅）和螢（yíng）石（藍）的元素分布圖；圖（tú）像尺寸：20×12mm²；掃描分（fèn）辨率：800×460pixels

右：螢石（藍）和方解石（紅）的輕質元素光譜圖（tú）。

應用實例-電路板

由於AMS的（de）場（chǎng）深度深，如（rú）圖所示電路板的X射線圖（tú）像獲得更多的細節。此外，由（yóu）於激發X射（shè）線光子的（de）入口和出口角度減小（xiǎo），光（guāng）束能量依賴性變得不那麽明顯。

圖：具備AMS與不具備（bèi）AMS的（de）電（diàn）路板元素分布圖

左圖: 標（biāo）準（zhǔn）多導毛細管聚焦在電路板上，元件的高點失焦，顯得模糊。

右圖: AMS係統加載下圖像顯示高景深，組件聚焦在更大的景深範圍內。