原子力顯微（wēi）鏡Dimension Icon

性能優異、具備智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大樣品台的原子力顯微鏡

Bruker Dimension®   Icon™  原（yuán）子力顯微鏡為工業界和科研界（jiè）納米領域的研究者帶來了全新的應（yīng）用體驗，具有更（gèng）高水平的（de）性（xìng）能，多種不同功能和配件（jiàn）選擇，測試功能強大，操作簡便易行。

通過齊集（jí）Dimension係統數十年的技術經驗、廣大客戶反饋、結合工業領域的設備需求， Dimension Icon進行了全麵革新。全新的（de）係統設計（jì），實現了更高水準的低漂移和低噪音水（shuǐ）平。現在，用戶隻需要（yào）幾分鍾就（jiù）可獲取真實準（zhǔn）確的掃描圖像。

優異性能

·      獨（dú）特的傳感器設計，在閉環條件（jiàn）下，也能實現（xiàn）開環噪聲級別的大樣品高分辨率掃描成像。

·      進一步有效的（de）降低了噪聲水平，接觸（chù）模式下可獲得原子級（jí）圖像，在輕（qīng）敲模式下低於 30pm

·      熱漂移速率低千200pm/ 分鍾，獲得真正（zhèng）的無曲（qǔ）圖像 

快速、高效的檢測效率

·      XYZ閉環掃描器的新型設計，使儀器在較高掃描速度工（gōng）作時，也會不降低圖像（xiàng）質量，並有（yǒu）更好的數據采（cǎi）集效率。

·      參數預設置中融入了多年的（de）研發經驗，新的（de）NanoS cope® 軟件帶（dài）有默認的實驗模式 。

·      高分辨率相機和X-Y定（dìng）位可快速、高效地找到樣品（pǐn）測量位置

強大的多功能（néng）性

·      針尖和樣品之間具有開放式空間，不僅可以進行各種標準（zhǔn）實驗，也可以自行設計實驗方案（àn），能夠滿足不同研究工作的需求

·      在硬件和軟件技術方麵的（de）不（bú）斷創新，新開發的HarmoniX模式，可以測量納米尺度上材料性質

·      用戶可通過使用程序腳本進行（háng）半自動測量和數據分析 

產品特色

高性能和高分辨（biàn）率

Dimension®  Icon™是（shì）布魯（lǔ）克在針尖掃描技術上的一項革新技術（shù），具有卓越的分辨（biàn）率，與Bruker獨特的電（diàn）子掃描算法相結合，顯著提升了測量速度與質量。

係統配置溫度補償位置傳感器，實現了 Z 軸亞埃（āi）級和 XY 軸埃級的低噪音水平，將這個性能應用在 90 微米掃描範圍（wéi）、大樣品台係統上（shàng），效果甚至超過大部分高分辨率原子力顯微鏡的開環噪音水平。XYZ 閉環掃描頭的新設計使儀器在較高掃描速度工作（zuò）時，圖像（xiàng）質量也不會被損壞，實現了更大的數據采集輸（shū）出量。

配置了Bruker的PeakForce®技術，Dimension Icon可實現智能獲取高分辨圖像。

接觸模（mó）式獲（huò）得的雲母原子圖像，掃描速度0.6Hz

卓越表現

      Dimension  Icon原子力顯微鏡已成為研究領域飽受歡迎的原子力顯微鏡型（xíng）號之一， 使用Dimension  Icon發表文章的數目比其他大樣品（pǐn）台AFM更（gèng）多。Dimension Icon 在原有的操作平台上引入新技術，展現（xiàn）出更高的性能和（hé）更快的測量速度。其軟件（jiàn）直觀的工作流程，使其操作過（guò）程比以往先進的AFM 技術更加簡便。

      現在，Dimension  Icon用戶無需像以前一樣調整幾小（xiǎo）時的（de）專業參（cān）數，即可立即獲得高質量的測量結果。Dimension Icon 的每個方麵，從完全（quán）開放式針尖樣品空間，到軟件參數預設置，都經過特殊設計以求達到無障礙操作（zuò）和（hé）驚人的AFM 易用（yòng）性。

Dimension Icon用戶操作界麵

應用廣泛，表現出眾

      Dimension Icon可高（gāo）速捕捉多通道數（shù）據，獲得更多高質量的（de）測量結（jié）果。結合Bruker多項AFM方麵的技術和（hé）模（mó）式以及模式增（zēng）強功能（néng），Icon能夠提供卓越的儀器性能和出眾的（de）測量表現，能夠幫助您（nín）在納米研究、材（cái）料研究等領（lǐng）域裏更上一層樓。

·      材料成像

ICON支持Bruker的PeakForce ONM™成像（xiàng）模式，研（yán）究者在獲得高（gāo）分辨率形貌圖像的同時，還可（kě）以對樣品進行納（nà）米（mǐ）定量力學性能測試，同時獲得高分辨成像。此技術適用範圍很（hěn）廣(模（mó）量從1MPa到50GPa，粘附力從10pN到10μN)，可以對（duì）不同類型的樣（yàng）品（pǐn）進行表征。

·      電學（xué）表（biǎo）征（zhēng）

可以以更高的靈敏度和更大的動態範圍實現電學表征。把這些研究與其他技術結合起來，比（bǐ）如Dark Lift，可（kě）在掃描電容顯微鏡，掃描（miáo）擴散電阻顯微鏡，扭轉共振隧道電流（liú）原子力（lì）顯（xiǎn）微鏡中獲得真正的無假象數據

·      納米操縱

可實（shí）現在納（nà）米和（hé）分子級（jí）別（bié）的納米操縱和刻蝕。Icon的 XYZ閉環掃描器可實現無壓電蠕變效應和超（chāo）低噪音的精密（mì）探針定位，適（shì）用於任何納米操縱係統。

·      加熱和冷卻

使用AFM不同模式掃描的同時，可實現-35°C到 250°C的溫度控製和熱分（fèn）析。使用熱（rè）探針可以（yǐ）在小於100nm的樣品局部加（jiā）熱，達到400°C。 

靈活的AFM平台

     Dimension Icon 展現出了的卓越的性能，穩定性（xìng）和靈活性，幾（jǐ）乎可以實現（xiàn）以前隻有在特（tè）製係統中才能完成的所有測量。利用開放式平台，大型或多元樣品支架和許多簡單易用的（de）性（xìng）能，把AFM 的強大功能完全展（zhǎn）現在科研領域和工業領域的研究者麵前，為高質量AFM成像和納米操作設定了新的（de）標準。

     Dimension Icon 提供對性能沒有任何影（yǐng）響的靈活性平台， 一（yī）個平台，無限可能：

·      開（kāi）放的平台，能整（zhěng）合其他技術（shù）

·      開放的軟件和硬件，能輕鬆定製您的研究（jiū）應用 - "如果它不（bú）存在， 就發明它（tā）"

·      電池、有機太陽（yáng）能等研究的完（wán）整解決方案（àn）

左圖：手套箱中的AFM-拉曼聯用。                      右圖（tú）：光導AFM配件。

用AFM拓展您的應用

      憑借一整套出色的AFM成像模式，布魯克能為您（nín）每項研究提供適用的 AFM 技術。

      基於核心成像模（mó）式（接（jiē）觸模式和輕敲模式），布魯克提供的（de）全套 AFM測試模式，允許用戶探測樣品的電學、磁性等豐富性能。布魯克（kè）的全新的峰值力輕敲技術作為（wéi）一種新（xīn）的（de）核心成像模式，已（yǐ）被應用到（dào）多種測量模（mó）式中，能同時提供形貌、電學和力學性（xìng）能數據。

Dimension Icon數據（jù）示例：

左：輕敲 (Tapping) 模式中的syndiotactic polypropylene閉環成像。掃描範圍（wéi）: 5μm。

右：Syndiotactic polypropylene結晶動（dòng）力學研究: 本體聚合物（wù）從室溫(左)快速加熱至160℃的完全熔化狀態。128°C 時，促進（jìn）了等溫結晶的平衡，並形成比原始層狀晶（jīng）體更大的（de）晶體。右圖顯示 101 分鍾的部分結晶圖像。

左：空氣中DNA的輕敲模式閉環圖像。掃描範圍: 2μm，掃描（miáo）速率: 4.88Hz

中：HOPG上C36H74 烷的AFM圖像。清晰（xī）可見的片層結構（gòu）間距，與完全擴展C36H74 鏈構象下的長度間距（jù） (±4.5nm)一（yī）致

右：使用TR-TUNA模式對金圖案化矽基底上分（fèn）散的單壁碳形貌和導電（diàn）性（xìng）同（tóng）時成像。掃描（miáo）範圍: 1μm

左：壓電（diàn）薄膜（mó）材料上Dimension lcon loge刻蝕圖案的壓電響應力顯微鏡(PFM)振幅圖像。顯示Icon探針在刻蝕（shí）過程中的精確 XY 定位控製。掃描範圍（wéi）: 20μm

中：HarmoniX 黏附力成像顯示毛細力相互作用

右：HOPG上C36H74 烷的閉（bì）環、高分辨（biàn）率AFM 圖像。掃描範（fàn）圍: 100nm