
薄膜應力及基底翹曲測試設備
FSM128係列設備,裝備有光學掃描係統。
薄(báo)膜應力及基底翹曲測試設備
FSM 500TC 200mm 高溫應力測試係統可以幫助研發和工藝工程師評估薄膜的熱力學性.....
晶圓厚度測量係統
FSM413回波探頭傳感器使用具有紅外(IR)幹涉測量技術
Line Card
全自動紫外線芯片應力測量儀
全自動紫外線芯片應力測量儀一台全自動紫外線——可見光RAMan儀器,主要(yào)用與(yǔ)測(cè)量芯片(piàn)應力。
紅外幹涉測量設(shè)備
紅外幹涉測量(liàng)技術, 非(fēi)接觸式測(cè)量
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