
反射膜厚儀
大部分透光或(huò)弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
納米壓(yā)痕儀/納米力學測試係統 Hysitron TI 980
TI980是多樣化的納米力學表征工具,在納米力學表(biǎo)征中提供高水平的優異性能(néng)、增強功能及多樣(yàng).....
反射膜厚儀
MProbe UVVisSR薄膜(mó)測厚儀大部分透光(guāng)或弱(ruò)吸(xī)收的薄(báo)膜均可以快速且穩定的(de)被測量。
反射膜厚儀
采用近紅(hóng)外光譜(NIR)的測厚儀可以用於測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域
光學輪廓儀係統
光學輪廓儀(yí)係統適(shì)用於科(kē)研(yán)和生產(chǎn)的高質量表麵測量手段(duàn)ContourGT-I3D光學顯(xiǎn)微鏡將三.....
三維表麵測量係統
布魯克NPFLEX 三維表麵測量係(xì)統為大樣品的表麵表征測量提供了靈活的非接(jiē)觸式的方案,超過.....
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